天津市華銀建工儀器科技有限公司
MC-3001系列涂層測(cè)厚儀是分體式涂層測(cè)厚儀,一臺(tái)主機(jī)可以配置多種探頭，使儀器能更好的適用不同的工件,可以測(cè)量多種金屬上面的涂層或鍍層。
MC-3001多功能涂層測(cè)厚儀
MC-3001系列涂層測(cè)厚儀是分體式涂層測(cè)厚儀,一臺(tái)主機(jī)可以配置多種探頭，使儀器能更好的適用不同的工件,可以測(cè)量多種金屬上面的涂層或鍍層。
2.4寸高清TFT彩屏使測(cè)量顯示更加清晰；藍(lán)牙2.0無(wú)線通信方式使數(shù)據(jù)傳輸更加靈活；
配有“鎖相環(huán)”技術(shù)， 使儀器的測(cè)量更加穩(wěn)定和精準(zhǔn)；
翻轉(zhuǎn)顯示、中英文顯示、多種測(cè)量模式等特性，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的工作需求，給客戶提供了更多的便利。
MC-3001系列涂層測(cè)厚儀可以選擇多種測(cè)頭，F(xiàn)e探頭采用磁感應(yīng)法測(cè)量鐵磁性材料上的非磁性涂層的厚度，NF探頭采用電渦流法測(cè)量導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電涂層的厚度。
本儀器根據(jù)探頭類型的不同，可以方便無(wú)損地測(cè)量磁性材料上的非磁性涂層的厚度(磁性測(cè)頭)，或者測(cè)量導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層的厚度(非磁性測(cè)頭)。
該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
技術(shù)參數(shù)
主機(jī)參數(shù)表 | ||
探頭類型 | F | N |
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 |
溫度補(bǔ)償 | “二代鎖相環(huán)”技術(shù) | |
測(cè)量范圍 | 由探頭決定 | |
顯示方式 | 2.4寸TFT彩屏，320*240像素，大號(hào)數(shù)字顯示 | |
數(shù)據(jù)接口 | 藍(lán)牙2.0，可以與電腦和打印機(jī)進(jìn)行無(wú)線通信 | |
存儲(chǔ)方式 | 手動(dòng)、自動(dòng)可選，1000個(gè)存儲(chǔ)組，每組12個(gè)數(shù)據(jù) | |
校準(zhǔn)方式 | 基體校準(zhǔn)、系統(tǒng)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn) | |
測(cè)量速度 | 單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量 | |
語(yǔ)言 | 內(nèi)置中文、英文 | |
日歷 | 可以顯示時(shí)間信息 | |
單位 | 公、英制可轉(zhuǎn)換 | |
背光調(diào)節(jié) | 手動(dòng)可選，6種不同亮度等級(jí)。 | |
關(guān)機(jī)方式 | 手動(dòng)、自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式 | |
測(cè)量模式 | 精簡(jiǎn)模式、監(jiān)控模式、統(tǒng)計(jì)模式、最小值捕捉 | |
使用溫度 | 相對(duì)濕度：≤90% ； 溫度：-10℃~+40℃ | |
電池壽命 | 超過(guò)10,000個(gè)讀數(shù)（最小背光亮度下） | |
供電電源 | 兩節(jié)五號(hào)（AA）電池 | |
主機(jī)尺寸 | 150mm(L)*68mm(W)*33mm(H) | |
整機(jī)重量 | 220g(含電池) | |
影響測(cè)量的若干因素
基體的影響
1、基體金屬磁化
磁性探頭測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。
為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與現(xiàn)場(chǎng)工件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度時(shí)，測(cè)量才不受基體厚度的影響。
3、表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。
每次測(cè)量時(shí)，在
不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；
或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
試片的影響
1、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
3、試片的變形
探頭會(huì)使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測(cè)量會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
4、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。應(yīng)避免在強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)附近使用本儀器，否則儀器會(huì)顯示未知的數(shù)據(jù)，或者無(wú)法正常工作。
5、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
6、探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中務(wù)必使探頭與試樣表面保持垂直，否則會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。
7、讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
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